Трехмерная кремниевая Технология Что, где, когда?

Страница создана Антон Еремеев
 
ПРОДОЛЖИТЬ ЧТЕНИЕ
Новые технологии                                                                        www.electronics.ru

Трехмерная кремниевая
технология
Что, где, когда?
Часть 2*
                             В.Юдинцев, vlad@elvees.com

                        Выполнять закон Мура путем масштабирования КМОП-схем ста-
                        новится все труднее и дороже. Простой путь к достижению уровня
                       "больше, чем Мур" при относительно малых капитальных затратах –
                       трехмерная интеграция с помощью сквозных отверстий через крем-
                        ний (Through-Silicon-Vias, TSV). И разработчики радиоэлектронной
                        аппаратуры все чаще задают вопрос: "Когда же реально начнется
                        производство трехмерной электроники с TSV-межсодинениями?".
                        Сегодня уже существует множество методов реализации трехмер-
                        ных микросхем, в том числе и с TSV-межсоединениями. И совре-
                        менные разработки позволяют предположить, что ответ на этот
                        вопрос: "Ждать уже недолго". Но широкое распространение 3D-схем
                        невозможно без активной поддержки их производства, развитой
                        инфраструктуры и каналов поставок. Что предпринимается в этом
                        направлении, каковы сегодня затраты на производство трехмерных
                        микросхем?

Развитие 3D TSV-технологии                                       на печатные платы с большим шагом проводни-
Предположение,     что   теоретически   метод                    ков. В промежуточные кремниевые пластины
3D-интеграции с помощью TSV-межсоединений                        могут быть встроены как пассивные компоненты
хорош, но никогда не найдет применения в про-                    (развязывающие конденсаторы, индуктивности),
изводстве поставляемых на рынок устройств, ока-                  так и активные (стабилитроны, транзисторы)
залось неверным. Это связано с наметившейся                      (рис.4) [7].
тенденцией к созданию на первом этапе осво-                          Первыми электронными устройствами с TSV-
ения производства 2,5D-устройств, содержащих                     межсоединениями, выполненными на конечных
несколько кристаллов, объединяемых с помощью                     операциях обработки, были 2,5D МЭМС- и КМОП-
промежуточной монтажной пластины (interposer).                   преобразователи изображения. Предполагалось,
Такая монтажная пластина, кремниевая или сте-                    что следующий этап освоения TSV-технологии
клянная с вертикальными сквозными отверсти-                      приведет к появлению трехмерных сборок ДОЗУ,
ями и медными контактными столбиками позво-                      что позволит уменьшить время задержки схем
ляет присоединять микросхемы с малым шагом                       памяти, увеличить их пропускную способность
                                                                 и плотность соединений. Еще в 2009 году компа-
 * В.Юдинцев. Трехмерная кремниевая технология. Что, где, ког-   ния Elpida Memory (Япония) объявила о разработке
     да? ч.1. – ЭЛЕКТРОНИКА: НТБ, 2011, №4, с.70–75.             3D ДОЗУ емкостью 8 Гбит с поликремниевыми

96   ЭЛЕК ТР ОНИК А наука | технология | бизнес                                                        №5 (00111) 2011
Новые технологии                                                                      www.electronics.ru

TSV [8]. Поставки опытных образцов памяти пла-            Semiconductor, рост популярности 2,5D-схем
нировались на осень 2009 года, а промышлен-               с микросхемами памяти, располагаемыми
ных изделий – на 2010 год. Чтобы скорее реализо-          поверх логики, обусловлен их лучшими харак-
вать свои планы по освоению рынка 3D-модулей              теристиками в сравнении с трехмерной инте-
ДОЗУ, компания в 2010 году заменила поликрем-             грированной памятью. Предполагается, что
ниевое покрытие сквозных отверстий медным.                такие 3D-системы в будущем найдут применение
На Международной конференции по твердотель-               и в телевизорах высокой четкости.
ным схемам этого года (ISSCC 2011) компания                    Интерес изготовителей микроэлектроники
Samsung объявила о создании по TSV-технологии             к технологии 2,5D-устройств возник после появле-
ДОЗУ с широким интерфейсом емкостью 1 Гбит                ния микросхемы программируемой логики ком-
[9]. Все это послужило оптимистическому про-              пании Xilinx, в которой небольшие FPGA серии
гнозу компании Yole Development рынка трехмер-            Virtex 7 с 28-нм нормами были смонтированы
ных модулей ДОЗУ, согласно которому к 2013 году           на пассивную кремниевую монтажную пластину
в телекоммуникационных и компьютерных систе-              с большим числом выводов [10]. По плотности
мах будет применяться более 70% отгружаемых               выводов кремниевая промежуточная монтажная
3D ДОЗУ.                                                  пластина в 20 раз превосходит керамические пла-
     Но, несмотря на громкие заявления компа-             стины, предназначенные для монтажа электрон-
нии Elpida, на рынке ее 3D-сборки ДОЗУ до сих             ных компонентов. С помощью этой пластины
пор не появились. Более того, в 2010 году компа-          с TSV-соединениями, выполненными с 65-нм
ния заключила с тайваньскими фирмами UMC                  топологическими нормами, удалось получить
и Powertech Technologies договор на совместные            больше соединений между кристаллами FPGA
работы по интеграции модулей памяти с логи-               (свыше 10 тыс.), чем в системе в корпусе. Таким
ческими устройствами. Новые изделия будут                 образом, важное достоинство 2,5D-технологии –
выполнены на основе модулей ДОЗУ компании                 сокращение межсоединений микросхем и эконо-
Elpida, логики UMC и технологии 3D-сборки ком-            мия потребляемой энергии.
пании Powertech. Это решение компании Elpida                   Специалисты компании ASE отмечают, что
отражает тот факт, что благодаря появлению                освоение технологии 2,5D-интеграции позволит
схем ДОЗУ с широким интерфейсом трехмер-                  плавно перейти не только от современных пла-
ная структура "память + логика", выполненная              нарных схем к будущим трехмерным конструк-
с применением промежуточной монтажной пла-                циям, но и от топологических норм 40 нм к 28-нм
стины, неожиданно получила широкое призна-                нормам. Эта технология, возможно, найдет
ние как "локомотив" рынка трехмерных микро-               применение для создания многофункциональ-
схем. По мнению специалистов компании Hynix               ных микросхем высокого технического уровня
                                                          и в этом случае, развиваясь параллельно с трех-
                   Сквозные отверстия через кремний       мерной технологией, позволит получать альтер-
                                                          нативные решения.
                                                               По мнению научного сотрудника Института
                                                          промышленных технологий Тайваня (ITRI) д-ра
                                                          Джона Лау, кремниевые пассивные промежуточ-
                                                          ные монтажные пластины будут использоваться
                                                          в микроэлектронике еще лет десять. Поэтому
                                                          завершение      развития    микроэлектроники
                                                          по закону Мура и перехода к истинной трехмер-
                                                          ной кремниевой технологии (в отличие от прово-
                                                          димой сейчас интеграции кремниевых кристал-
                                                          лов) придется ждать еще десять лет.
                                                               Но, несмотря на блестящие перспективы раз-
           Кремниевая промежуточная монтажная пластина
                                                          вития 2,5D-технологии, не прекращаются работы
     Многослойная подложка с матрицей шариковых выводов
                                                          по созданию интегрированных 3D-устройств. Так,
                                                          на выставке CeBIT этого года президент корпо-
                                                          рации IBM Сэм Пальмизано сообщил о планах
Рис.4. Структура 2,5D-устройства с промежуточной          по производству процессора Power8, который
монтажной пластиной                                       намечено выпустить в 2013 году, по 3D-технологии

№5 (00111) 2011                                                    ЭЛЕК ТР ОНИК А наука | технология | бизнес   97
Новые технологии                                                          www.electronics.ru

интеграции кристаллов с 28-нм или 22-нм нор-      поставок, поддерживающих их производство.
мами [11]. Модуль памяти будет располагаться      А пока вопросы, кто рискнет инвестировать
над или под схемой процессора. В процессоре,      в 3D-технологию, особенно наиболее перспектив-
вероятнее всего, будет использован слой неболь-   ную TSV-технологию, и кто и когда будет форми-
ших специализированных вычислительных ядер,       ровать сквозные отверстия через кремний (на
адаптированных для выполнения конкретных          начальных, средних или последних этапах обра-
задач. В планах компании стоит задача реали-      ботки пластин), не решены. Отсутствуют средства
зации в кремнии TSV-соединений с плотностью       САПР и тестирования, экономически эффектив-
105 мм-2.                                         ное промышленное оборудование. Выход годных
     Серьезная проблема трехмерных процес-        микросхем неудовлетворителен, нет достаточных
соров – более сильный нагрев трехмерных сбо-      данных о надежности 3D-схем с учетом проблем
рок в сравнении с однокристальными схемами.       влияния температуры, электромиграции носите-
В результате совместных работ швейцарского        лей. Нет и стандартов. Успешная реализация TSV-
отделения корпорации IBM, Федерального инсти-     технологии потребует высокой степени коопера-
тута технологий Лозанны и Высшей технической      ции поставщиков материалов и оборудования.
школы Цюриха на выставке CeBIT IBM демон-             И здесь важную роль играет учрежденная
стрировала опытные схемы, охлаждаемые водой,      консорциумом Sematech в 2005 году программа
которая циркулировала по 50-мкм каналам.          трехмерной интеграции (3D interconnection
Правда, корпорация отмечает, что в производ-      program). К выполнению 3D-программы Sematech
стве такие микросхемы процессоров будут осво-     привлечены компании GlobalFoundries, UMC,
ены лишь через несколько лет [12].                HP, IBM, Intel, Samsung, ASE, Altera, Analog
     На симпозиуме по СБИС технологии 2010        Devices, LSI, On Semiconductor, Qualcomm. В авгу-
года компания Macronix International (Тайвань)    сте 2010 года Sematech объявил о вводе в строй
сообщила о создании трехмерной флеш-памяти        в комплексе нанотехнологии в Олбани, входящем
NAND-типа с вертикальным затвором, выпол-         в Центр нанотехнологий (Nanoscale Science and
ненной на основе запатентованной структуры        Engineering, CNSE), линии по производству опыт-
захвата носителей BE-SONOS (окись кремния-        ных 3D-приборов на 300-мм пластинах. Линия
окись азота-кремний с утопленным барьером.        оборудована установками формирования сквоз-
Трехмерную микросхему флеш-памяти фор-            ных отверстий диаметром до 5 мкм и глубиной
мируют восемь микросхем с площадью ячейки         до 50 мкм, совмещения пластин и кристаллов,
памяти 0,0014 мкм 2. Шаг выводов микросхемы       разварки выводов, утонения пластин и проведе-
составляет 75 нм. По утверждению компании,        ния необходимых измерений.
в схеме отсутствовали помехи в Z-направлении,         В начале 2011 года консорциум сообщил
ток считывания был большим и напряжение           о новом процессе "коллективной" интеграции
записи достаточным для работы многоуровне-        кристаллов на пластине (Die-to-Wafer, D2W) [15].
вых ячеек. Проведенное моделирование показало,    Кристаллы с требуемой структурой с помощью
что структура 3D-памяти может быть выполнена      короткого низкотемпературного процесса присо-
по 25-нм технологии и существенно превосходить    единяются к смонтированной на подложке пла-
планарные микросхемы флеш-памяти по плотно-       стине диаметром 300 мм и толщиной 50 мкм
сти размещения элементов [13].                    со сквозными отверстиями малого диаметра.
     Таким образом, по-видимому, основным         По утверждению разработчиков, новый процесс
стимулом развития TSV-технологии является не      совместного присоединения кристаллов к пла-
меньшая стоимость в сравнении с планарными        стине перспективен для производства трехмер-
приборами, а обеспечиваемые ею более высокие      ных гетерогенных микросхем.
рабочие характеристики [14].                          В задачи программы трехмерной интегра-
                                                  ции входит и создание "эталонного процесса"
Программы освоения производства                   производства трехмерных микросхем памяти
3D-схем                                           с широким интерфейсом, выполненных со сквоз-
Сегодня существует множество методов реа-         ными отверстиями диаметром 5 мкм и глубиной
лизации трехмерных микросхем, в том числе         500 мкм. Кроме того, объединенные усилия входя-
и с TSV-межсоединениями. Однако широ-             щих в консорциум компаний будут направлены
кое распространение 3D-схем невозможно            на создание инструментальных средств САПР
без развитой инфраструктуры и каналов             и соответствующих средств тестирования.

98   ЭЛЕК ТР ОНИК А наука | технология | бизнес                                          №5 (00111) 2011
Новые технологии                                                                   www.electronics.ru

      Программу по созданию 3D-схем, пригодных         Sematech ведет работу по установлению проблем,
для производства, проводит и центр IMEC. В начале      связанных с 3D TSV-технологией. В разработке
2011 года IMEC и компания Cascade Microtech            стандартов принимают участие многие компа-
заключили соглашения о совместном тестирова-           нии, разрабатывающие, производящие, корпу-
нии и измерении характеристик 3D-микросхем,            сирующие и тестирующие интегральные схемы,
разработке методов испытаний разрабатываемых           в том числе Amkor, ASE, GlobalFoundries, Hewlett-
3D TSV-структур и определении требований к стан-       Packard, IBM, Olympus, Qualcomm, Intel, Samsung,
дартам по конструированию и производству 3D ИС         Semilab, Tokyo Electron, Xilinx, UMC, а также такие
[16]. Главная цель совместного исследовательского      организации, как IMEC, ITRI.
проекта – упрощение испытаний новых конструк-               Первоначально в Комитет 3DS-IC войдут три
ций 3D TSV-микросхем. Согласно этому проекту,          рабочие группы:
кремниевые пластины будут тестировать зондами          •    группа выработки стандартов на соединение
с шагом 40 мкм и менее. В ходе программы IMEC               пары пластин (BWP). Стандарты этой группы
реализует систему тестирования 3D-схем "под                 будут разрабатываться на основе специфи-
ключ", которая будет включать зондовую станцию              кации SEMI M1 для полированных пластин
и новую зондовую плату для испытания 3D TSV-                монокристаллического кремния. Работы
структур компании Cascade Microtech. Зондовые               группы будут проводиться под руководством
станция и плата будут использованы для снятия               Sematec;
характеристик TSV в пакете кристаллов с целью          •    группа контроля и метрологии, которая
оптимизации характеристик и надежности инте-                должна изучать и создавать новые стандарты,
грированных 3D ИС.                                          позволяющие решать проблемы метрологии
      Исследовательский центр CEA-LETI в Гренобле           и контроля, выявленные Комитетом 3DS-IC.
(Франция) приступил к освоению производства                 Руководить работами этой группы должна
3D-устройств на 300-мм пластинах. Партнер                   компания Semilab;
CEA-LETI – компания STMicroelectronics. Центр          •    группа создания стандартов на держатели
также планирует привлечь к программе компа-                 утоненных пластин, которая должна изу-
нию Shinko Electric Industries (Япония) – разработ-         чать и создавать новые стандарты для реше-
чика кремниевых монтажных промежуточных                     ния выявленных 3DS-IC задач. Руководить
пластин.                                                    работами этой группы должна компания
      Консорциумы образовали по 3D корпусиро-               Qualcom.
ванию Институт микроэлектроники (Institute of               Готовится создание еще одной рабочей
Microelectronics, IME) Сингапура и по 3D-тематике      группы, внимание которой будет направлено
Институт промышленных технологий Тайваня [17].         на определение проблем единичных пластин,
     Однако одной из важнейших проблем осво-           используемых в процессе интегрирования.
ения производства 3D TSV-микросхем до сих пор          Возможным руководителем группы станет ком-
остается отсутствие надлежащих стандартов.             пания Applied Materials.
                                                           Уже подготовлены проекты первых стандар-
Стандартизация и тестирование                          тов на параметры пластин и технологических
Многие     комитеты      и    рабочие     группы       процессов, которые должны быть выпущены
Объединенного технического совета по электрон-         в начале 2012 года [18].
ным приборам (JEDEC) и Института инженеров                  Еще одним решением проблем стандар-
по электротехнике и электронике (IEEE) уже много       тизации производства 3D-устройств является
лет работают над созданием основы стандартов           учреждение в 2010 году консорциумом Sematech,
на трехмерные интегрированные микросхемы.              Ассоциацией      полупроводниковой         промыш-
С целью ускорения решения этой проблемы в дека-        ленности (Semiconductor Industry Association,
бре 2010 года Международная организация про-           SIA)    и   исследовательским       консорциумом
изводителей полупроводникового оборудования            Semiconductor Research Corp. (SRC) новой про-
и материалов (SEMI) сформировала Комитет стан-         граммы реализации 3D-конструирования (3D
дартов на трехмерные пакетированные микро-             Design Enablement). Цель программы – стимули-
схемы (Tree-Dimensional Stacked Integrated Circuits,   рование деятельности по разработке промышлен-
3DS-IC). Для объединения усилий промышлен-             ных стандартов и технических условий на про-
ных компаний и определения особенностей                цессы гетерогенной интеграции. В проведении
стандартизации SEMI совместно с консорциумом           программы участвуют компании Analog Devices,

№5 (00111) 2011                                                 ЭЛЕК ТР ОНИК А наука | технология | бизнес   99
Новые технологии                                                                                 www.electronics.ru

 a)
                                                                      МЭМС

                                                                                                                         Доля пластин, предназначенных
                                                                                                                          для производства 3D-устройств
                                                                      Преобразователи
                                                                      Память
                                                                      Программируемые вентильные матрицы
                                                                      Беспроводные устройства
                                                                      Процессоры

                                                                  2009     2010         2011    2012     2013    2014

             КМОП-формирователи изображения, 232 млн. долл.
            Светодиоды, 2 млн. долл.                           Рис.6. Структура производства трехмерных схем
          Мощные/ВЧ-устройства, 7 млн. долл.
        Память, 4 млн. долл.
       МЭМС/датчики, 75 млн. долл.                             Коммерциализация 3D-микросхем
                                                               Несмотря на экономический кризис последних
 б)                                                            лет, инвестиции в такое важное для инноваци-
                  Пакетированная флеш-память, 325 млн.долл.
                                                               онного развития электроники стратегическое
          Беспроводные системы в корпусе, 166 млн.долл.
                                                               направление, как 3D-интеграция, не прекра-
                               Логические СнК/СвК
                                                               тились. Это подтверждено тем, что, по данным
                                                               компании Yole Development, сегодня в дизайн-
                                                               центрах, аутсорсинговых компаниях, специ-
                                                               ализирующихся в области корпусирования
                                                               полупроводниковых приборов, промышленных
                                                               компаниях мира установлены и работают (полно-
                                                               стью или частично) 15 опытных линий по про-
                                                               изводству 3D-микросхем по TSV-технологии на
                                                               300-мм пластинах [19]. Наибольшая активность
                                                               наблюдается в странах Азиатско-Тихоокеанского
                                                               региона (АТР). Благодаря разработкам таких ком-
                                                               паний, как Taiwan Semiconductor Manufacturing Co.
                                             МЭМС и датчики,   (TSMC), а также аутсорсинг-фирм Amkor, Advanced
                                             431 млн.долл.     Semiconductor Engineering (ASE) и STATS ChipPAC
                                    Светодиоды высокой
                                                               в 2012 году может начаться производство трехмер-
                                    яркости, 102 млн.долл.
                               Мощные и аналоговые             ных микросхем. Так, крупнейший производитель
                               устройства, 93 млн.долл.        микросхем, компания TSMC, устанавливает на
                  Модули пакетированных ДОЗУ,
                                                               заводе Fab 12 в Хсинчу линию по производству
                  292 млн.долл.
            Логические устройства с модулями                   3D-схем по TSV-технологии на 300-мм пластинах
            системы памяти в корпусе, 1,751 млрд.долл.         и через два–три года намерена приступить к мас-
          КМОП-преобразователи изображения, 549 млн.долл.      совому производству таких схем [20].
                                                                    Но не только компании АТР уделяют серьезное
                                                               внимание 3D-интеграции. Изучением проблем
Рис.5. Рынок трехмерных электронных устройств                  трехмерной технологии заняты компании IBM,
в 2009 году (а) и 2015 (б)                                     Intel, Analog Devices, Altera, LSI, On Semiconductor,
                                                               Qualcomm, Applied Materials, Samsung, Toshiba,
Altera, LSI, On Semi и Qualcomm. В задачи про-                 а также такие организации, как IMEC, Институт
граммы входит создание "контрольной сетки" на                  промышленных технологий Тайваня, консор-
основе 3D-схем различного назначения.                          циум Sematech и Международная организация
    Все эти программы способствуют коммерциа-                  производителей полупроводникового оборудова-
лизации трехмерных схем.                                       ния и материалов.

100   ЭЛЕК ТР ОНИК А наука | технология | бизнес                                                                 №5 (00111) 2011
Новые технологии                                                                              www.electronics.ru

Рынок трехмерных микросхем                                   в корпусе, мощных и аналоговых устройств – 20%
Изготовители микросхем уже давно обсуждают                   (рис.5) [21].
достоинства трехмерных приборов, но за исклю-                    Компания TechSearch International, которая
чением КМОП-преобразователей изображения                     отслеживает более 50 программ по созданию
и МЭМС пока 3D-устройства на рынке представ-                 3D-электроники, при оценке рынка трехмерных
лены слабо. Поэтому, согласно оценкам ком-                   устройств настроена столь же оптимистично.
пании Yole Development, в 2009 году на рынок                 Но отмечает, что трудная работа по переходу
трехмерных схем, объем продаж которого соста-                от производства трехмерных МЭМС и датчи-
вил ∼400 млн. долл., в основном поставлялись                 ков к выпуску других электронных 3D-приборов
КМОП-преобразователи изображения, МЭМС                       только началась. По оценкам компании, более
и датчики. На рынке был представлен также SiGe               50% пластин, предназначенных для производ-
БиКМОП-усилитель мощности компании IBM,                      ства трехмерных схем, в 2015 году, по-прежнему,
изготовленный по TSV-технологии. 3D КМОП-                    пойдут на изготовление КМОП-преобразователей
преобразователи изображения выпустили ком-                   изображения (рис.6). Это мнение, очевидно,
пании TSMC/Xintec (на сумму 140 млн. долл.),                 поддерживают и многие эксперты электронной
STMicroelectronics (20 млн. долл.), Samsung,                 промышленности.
Toshiba (20 млн. долл. каждая) и Aptina (10 млн.                 Вместе с тем, важное условие широкого рас-
долл.). Объем продаж 3D-микросхемы SiGe усили-               пространения трехмерных схем – определение их
теля мощности был равен 5 млн. долл.                         стоимости.
    В 2015 году Yole Development прогнозирует
увеличение объема продаж трехмерных микро-                   Анализ стоимости 3D ИС
схем до 4,1 млрд. долл. При этом на долю сбо-                Анализ стоимости системы на ранних этапах
рок логических схем с модулями памяти при-                   ее проектирования, когда нет подробной инфор-
дется более 30% продаж, КМОП-преобразователей                мации о ней, затруднено. По-видимому, начать
изображения, МЭМС, датчиков и светодиодов                    анализ стоимости трехмерных устройств целе-
высокой яркости – примерно 30%, трехмерной                   сообразно с рассмотрения площади кристалла,
памяти и памяти с различными типами запо-                    длины проводящих линий и требуемого числа
минающих устройств (ДОЗУ, флеш-память NAND-                  слоев металлизации. При этом стоит оцени-
типа) – примерно 20%, беспроводных систем в кор-             вать стоимость обработки пластины и стоимость
пусе, 3D логических систем на кристалле/систем               сборки трехмерной конструкции (рис.7) [22].

                      Модель                Модель стоимости                    Соединение верхних поверхностей/
                    стоимости                 соединения                              соединение верхней
                     пластины              кристаллов/пластин                        и нижней поверхностей

                                                                        Стоимость                     Выход
                                        Выход
                  Стоимость                                             операции                      годных
                                        годных
                  кристалла                                            соединения                  на операции
                                      кристаллов
                                                                       кристаллов                  соединения

                 Присоединение
                                                   Модель стоимости                    Стоимость тестирования
              пластины к пластине/
                                                    3D-конструкции                    исходно годных микросхем
              кристаллов к пластине

                                                       Стоимость
                                                                                        Уровень тестирования
                                                      трехмерных
                                                                                     исходных годных кристаллов
                                                   схем на кристалле

Рис.7. Модель оценки стоимости 3D-конструкции

№5 (00111) 2011                                                           ЭЛЕК ТР ОНИК А наука | технология | бизнес    101
Новые технологии                                                                                                                                                         www.electronics.ru

Таблица 2. Число требуемых металлических слоев в микропроцессоре с 65-нм топологическими нормами

                                                                                                                                              Тип конструкции
                      Число вентилей,
                            ×106
                                                                                       2D                    Двухслойная 3D                                                       Трехслойная 3D        Четырехслойная 3D

                                                          5                             5                                                5                                               5                            4

                                                         10                             6                                                5                                               5                            5

                                                         20                             7                                                6                                               5                            5

                                                         50                             8                                                7                                               7                          6

                                                         100                           10                                                8                                               7                            7

                                                     200                               12                                                10                                              9                          8

    Анализ влияния площади 2D-микросхемы                                                                                                      используемых в ней вентилей, тем меньше тре-
на ее стоимость, проведенный учеными                                                                                                          буется слоев металлизации (рис.8). Таким обра-
Университета штата Пенсильвания при финансо-                                                                                                  зом, разбиение кристалла с микросхемой на кри-
вой поддержке компаний Qualcomm и IBM, пока-                                                                                                  сталлы меньшей площади может в итоге привести
зал, что чем меньше площадь микросхемы и число                                                                                                к снижению стоимости трехмерной схемы. Но при
                                                                                                                                              оценке стоимости трехмерного устройства, изго-
                           350.00                                                                             11                              тавливаемого по TSV-технологии, необходимо
 Площадь кристалла, мм2

                                                                               Площадь исходного кристалла
                          300.00                                                                              10                              учитывать не только его площадь, но и допол-
                                                                                                                   Число слоев металла

                                                                               Металлический слой             9
                           250.00                                                                                                             нительную площадь, занимаемую сквозными
                                                                                                              8
                          200.00                                                                                                              отверстиями. При рассмотрении стоимости трех-
                                                                                                              7
                              150.00                                                                                                          мерного процессора, изготовленного по 65-нм тех-
                                                                                                              6
                             100.00                                                                           5
                                                                                                                                              нологии с шагом TSV 8 мкм, было показано, что
                                   50.00                                                                      4                               чем больше "слоев" в 3D-конструкции, тем больше
                                            0.00                                                              3                               площадь, занимаемая сквозными отверстиями.
                                                              100M    50M        20M      10M         5M                                      В 3D-устройстве малой сложности (5∙106 вентилей)
                                                                            Число вентилей
                                                                                                                                              с четырьмя слоями микросхем TSV занимают 10%
                                                                                                                                              общей площади кристалла. Однако при увеличе-
Рис. 8. Соотношение числа вентилей, слоев металла                                                                                             нии сложности прибора (например, до 200∙106 вен-
и площади микросхемы                                                                                                                          тилей) и пакетировании всего двух микросхем TSV

                                                   400                                                                              12.00%
                                                                                                                                              Изменение площади, занимаемой TSV

                                                   350
                                                                                                                                    10.00%
                          Площадь кристалла, мм2

                                                   300                                                                                                                            Площадь двухслойной конструкции
                                                                                                                                    8.00%
                                                   250                                                                                                                            Площадь трехслойной конструкции
                                                                                                                                                                                  Площадь четырехслойной конструкции
                                                   200                                                                              6.00%
                                                                                                                                                                                  Дополнительная площадь кристалла,
                                                   150                                                                                                                            занимаемая TSV в двухслойной конструкции
                                                                                                                                    4.00%
                                                   100                                                                                                                            Дополнительная площадь кристалла,

                                                                                                                                    2.00%                                         занимаемая TSV в трехслойной конструкции
                                                    50
                                                                                                                                                                                  Дополнительная площадь кристалла,
                                                    0                                                                               0.00%                                         занимаемая TSV в четырехслойной конструкции
                                                          200M       100M      50M     20M          10M      5M
                                                                               Число вентилей

Рис. 9. Доля площади кристалла, занимаемой сквозными отверстиями

102                           ЭЛЕК ТР ОНИК А наука | технология | бизнес                                                                                                                                            №5 (00111) 2011
Новые технологии                                                                    www.electronics.ru

                                                                     появятся 3D?" и "Как делать 3D?". Через десять лет
                                            Стоимость
                                                                     или раньше, оглядываясь на пройденный путь,
  Нормализованная цена

                                            соединения микросхем
                                                                     мы будем спрашивать: "Зачем 2D?".
                                            Стоимость
                                            второй микросхемы
                                            Стоимость
                                                                     Литература
                                                                     7.   F. von Trapp. 3D: Progressing Past the Powerpoint. –
                                            первой микросхемы
                                                                          Chip Scale Review, May/June, 2011, p.10–11.
                                            Стоимость
                                                                     8.   Garrou Ph. Elpida Preparing for 3-D Commercialization.
                                            двухмерной конструкции
                                                                          www.semiconductor.net/article/print/454625
                           а)     б)
                                                                     9.   Гольцова М. Международная конференция ISSCC 2011.
                                                                          От микросхем больших объемов до имплантируемых
Рис. 10. Снижение стоимости флеш-памяти                                   устройств. – ЭЛЕКТРОНИКА: НТБ, 2011, №3, с.32–45.
микропроцессора при использовании гетерогенной                       10. Need really big FPGAs? Xilinx will be taking the
технологии                                                                "3D" route for initial Virtex 7 parts. – eda360insider.
                                                                          wordpress.com/2010/11/16/need-really-big-fpgas-xilinx-
занимают не более 2% общей площади кристалла                              will-be-taking-the-%E2%80%9C3d%E2%80%9D-route-for-
(рис.9).                                                                  initial-virtex-7-parts.
    Поскольку соединений в каждой микро-                             11. Stiller A. 3D Chip technology ready to take off. –www.
схеме, входящей в 3D-конструкцию, меньше, чем                             multicoreinfo.com/2011/03/3d-chips/
в базовой планарной микросхеме, появляется                           12. Garrou Ph. IBM to use water cooling for future 3D IC
возможность удалить один–два металлических                                processors. –www.electroiq.com/articles/ap/2011/03/
слоя в каждой микросхеме конструкции. Анализ                              ibm-to-use-water-cooling.html
показал, что чем сложнее (больше интегрируе-                         13. Panaitescu F. Macronix International Unveils 3D
мых микросхем) устройство, тем больше можно                               NAND Flash Breakthrough.– gadgets.softpedia.com/
сокращать число слоев металлизации (табл.2).                              news/Macronix-International-Unveils-3D-NAND-Flash-
    Было также показано, что применение тех-                              Breakthrough-10332-01.html
нологии создания двухслойного устройства ста-                        14. Ramm P. et al. 3D Integration Technology. – EDA
новится экономически целесообразным при пло-                              Publishing/DTIP 2009.
щади микросхемы 250 мм 2.                                            15. SEMATECH reports die to wafer bonding progress for 3D
    Ученые университета Пенсильвании на при-                              integration.– www.electroiq.com/articles/ap/2011/03/
мере микропроцессора OpenSPARCT2 с минималь-                              sematech-reports-die-to-wafer-bonding-progress-for-3d-
ными размерами элементов 65 нм и 11 слоями                                integratio.html
металлизации, занимающего площадь кри-                               16. Cascade Microtech Partners with IMEC for 3D-TSV Probe
сталла 342 мм 2, рассмотрели достигаемое сни-                             Solutions.– www2.imec.be/be_en/press/imec-news/
жение стоимости при разбиении его на отдель-                              cascade-html.html
ные модули. Получено, что при выполнении                             17. LaPedus M. Momentum builds for 3-D chips. – www.
кэш-памяти микропроцессора на отдельном кри-                              eetimes.com
сталле число слоев металлизации можно сокра-                         18. New 3D Stacked IC Standards Committee at SEMI;
тить с семи до пяти, а стоимость процессора                               Call for Task Force Volunteers.– www.semi.org/en/
уменьшить на 15% (рис.10).                                                Standards/CTR_042328
    Таким образом, анализ стоимости устройства                       19. Garrou Ph. 3-D IC Commercialization Continues
на раннем этапе конструирования позволяет опре-                           Despite Downturn. – Semiconductor International
делить целесообразность его 3D-исполнения.                                Magazine, March, 2010. – www.allitwares.com/
                                                                          featured-articles-body-3-D-IC-Commercialization-
                        ***                                               Continues-Despite-Downturn-109-1.html.
    Проблемы трехмерной интеграции не мешают                         20. TSMC to ramp new 12-inch fab.– www.simmtester.com/
развитию этой перспективной технологии. Их                                page/news/shownews.asp?num=13834
решения, скорее всего, следует рассматривать                         21. 3D Integration Infrastructure & Market Status.– www.
как "возможности", способствующие завоеванию                              suss.com/fileadmin/files/company/events/1.Yole%20
новых рынков. Три года назад, сталкиваясь с про-                          Developpement_3D%20Integration%20Infrastructure%20
блемами трехмерной интеграции, мы спраши-                                 and%20Market%20Status.pdf
вали: "Зачем 3D?". Сегодня, в ходе успешного осво-                   22. PFTLE 120 3-D IC System Level Cost Analysis. – pftle.
ения этой технологии, основные вопросы – "Когда                           net/?p=119/

№5 (00111) 2011                                                                   ЭЛЕК ТР ОНИК А наука | технология | бизнес        103
Вы также можете почитать